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DAGE Quadra 5 X光检查机

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    Nordson DAGE Quadra 系列X射线检测系统

DAGE Quadra 5 X光检查机



主要检测:电子元器件、PCBA 电路板内部焊接,短路,气孔,气泡,裂纹,及异物检查。



Quadra 5 X 射线检测系统适用于亚微米材料的应用,如 PCB 和半导体封装检测、假冒成分筛选和成品质量控制。



广泛应用



球栅阵列(BGA )

四方扁平无引脚(QFN )

四方扁平封装(QFP )

堆叠式封装(POP )

印刷电路板/印刷电路板组装(PCB / PCBA )

集成电路(IC)

半导体封装

微电机系统(MEMS ,MOEMS )

电源管理集成电路(PMIC’s )/ IGBT

扇出型晶圆级封装(FO-WLP )

3D堆叠封装

高性能内存

连接器

底部端接元器件(BTC )

射频设备

焊盘分析

铜柱

微米级球体

镀通孔(PTH )

焊线分析



Quadra 5 系统规格



射线管

类型:QuadraNT 密封式透射管

特征分辨率:10瓦以内0.35微米,20瓦以内0.95微米

*大功率:10瓦(可选配20瓦)

电压:30 - 160千伏



探测器

类型:Aspire FP

分辨率:300万像素

帧率:25帧/秒

像素点间距:50微米

数字图像处理:16比特



系统

*大几何放大倍率:2500倍

*大总放大倍数:45,000倍

显示分辨率(像素/英寸):94像素/英寸

显示器:单,24寸,宽屏扩展图形阵列,分辨率为1920 x 1200

斜角视图:70°

主动减振:A iS - X射线图像主动防抖



选配功能

高功率升级:10瓦至20瓦



尺寸:1570 x 1500 x 1900 mm(W x D x H)

重量:1950 K

 
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